|
CONTENTS
| Stefan Kubisa - On probability distribution of the instrument error | 303 |
| Michał Lisowski, Michał Mosiądz, Wojciech Kusik - The measurement system for magnetic and electric properties of high temperature superconductors | 321 |
| Maria Bojarska, Jerzy Jakubiec - A method modeling the sampling converter dynamic errors | 337
| | Artur Dybko - Chemical sensors metrology | 357 |
| Arkadiusz Kluger - Cascade ac voltage source | 367 |
| Krzysztof Górecki, Janusz Zarębski - Microcomputer system for measuring thermal parameters of a class of semicoductor devices and integrated circuits | 379 |
| Krzysztof Górecki, Jerzy Zarębski - Invigation of the thermometric characteristics of semicondoctror devices with p-n junction | 397 |
SPIS TREŚCI
| Stefan Kubisa - O rozkładzie prawdopodobieństwa błędu przyrządu pomiarowego | 303 |
| Michał Lisowski, Michał Miłobęądz, Wojciech Kusik - System Pomiarowy do badania właściwości magnetycznych i elektrycznych nadprzewodników wysokotemperaturowych | 321 |
| Maria Bojarska, Jerzy Jakubiec - Metoda modelowania błędów dynamicznych przetwornika próbkującego | 337
| | Artur Dybko - Metrologia czujników chemicznych | 357 |
| Arkadiusz Kluger - Kaskadowe źródło napięcia przemiennego | 367 |
| Krzysztof Górecki, Janusz Zarębski - System mikrokomuperowy do pomiaru parametrów termicznych elementów półprzewodnikowych i układów scalonych | 379 |
| Krzysztof Górecki, Janusz Zarębski - Badanie charakterystyk termometrycznych elementów półprzewodnikowych ze złączami p-n | 397 |
|
